Nuovissimi FTIR JASCO serie -X: la risposta progettuale JASCO alle problematiche intrinseche nella tecnica di analisi FTIR

La tecnica FTIR è di grande interesse per tanti settori industriali e di ricerca. L'emissione energetica infrarossa smaschera  i composti "nascosti". I gruppi funzionali dei composti incogniti, infatti, assorbono l'energia fornita dalla sorgente; i loro momenti dipolari si attivano con moti di stretching e bending specifici. Lo spettro di scansione che si genera è quindi l'impronta digitale della formula chimica del composto.

La fruibilità dello spettro infrarosso può essere però compromessa da vari fattori:

• La presenza di acqua ed anidride carbonica, presenti entrambe nell'aria e nel campione: sono bipoli, per cui i loro spettri si sovrappongono a quelli dei componenti del campione.
• La sorgente infrarossa emette perchè  termicamente attivata. Le stesse operazioni di on/off provocano escursioni di calore ed umidità nello strumento, che disturbano l'elettronica e la qualità dei dati.
• La riproducibilità del posizionamento di ogni componente mobile del'interferometro, che modula il range spettrale.
• Il parallelismo dei fasci luminosi, onde evitare aberrazioni, perdita di intensità e diffusione.
• il comparto campione, che deve essere in grado di alloggiare campioni e portacampioni di ogni forma.
• la versatilità dell'ottica ( sorgenti, beamsplitter, detector, accessori)
• Il software deve regolare e  riconoscere automaticamente le impostazioni strumentali e consentire la deconvoluzione ed elaborazione spettrale più evoluta.

I nuovissimi banchi ottici JASCO FTIR serie-X  realizzano un compromesso tra la compattezza e le esigenze del bilanciamento energetico dell'elettronica. 

L' interferometro di Michelson è completamente termostatato, purgato e sigillato, flussabile ad azoto come gli accessori. Gli specchi ad angolo cubico dell'interferometro eliminano la deriva del segnale che causano le lenti qualora nel tempo si diseallineino.

Il sistema di gestione dell'alimentazione mantiene bassa e stabile l'energia della sorgente ceramica (patent pending), per aumentare la durata dei componenti ottici e abbattere l'umidità. 

L'interferometro è dotato di sistema brevettato di riproducibilità del posizionamento degli specchi AccuTrac DSP (Digital Signal Processing) che, insieme con l'oversampling, aumenta il rapporto S/N. La vastissima gamma di sorgenti, beamsplitter e detector innalza la linea da routine FTIR 4X ad una flessibilità tipica della strumentazione da ricerca, perchè è estendibile al FarIR e al NIR selezionando la componentistica:

Un convertitore A/D a 24 bit, un sistema elettrico a basso rumore, una sorgente luminosa ad alta intensità, un rilevatore ad alte prestazioni e un sistema ottico ad alto rendimento contribuiscono tutti a un elevato S/N di 35.000: 1, consentendo per eseguire misure di campioni di piccolo volume e misure di microscopia con alta sensibilità.La risoluzione minima di 0,4 cm-1 permette di misurare perfino lo spettro vibrazionale dei gas, ma si può regolare la risoluzione desiderata.  L'FT/IR-4X permette inoltre Rapid Scan con 80 spettri/sec. (risoluzione 16 cm-1) per poter seguire in modo affidabile i processi di reazione rapida.

Il software Spectra Manager 2.5 in modalità Start ed Expert mette le sue potenzialità a disposizione di tutta la linea degli spettrofotometri e microspettrometri JASCO.

3 anni di GARANZIA standard su laser e sorgente

Spettrometri FTIR JASCO FT/IR-6X

standard range spettrale: 7800-350 cm-1, opzional 25000-20 cm-1

risoluzione spettrale minima: 0,25cm-1, regolabile

rapporto segnale/rumore: 47000:1

Spettrometri JASCO FT/IR-8X FTIR

gamma spettrale standard: 7800-350 cm-1, opzionale 25000-20 cm-1

risoluzione spettrale: regolabile tra 0,07-16 cm-1

rapporto segnale/rumore: 55000:1